這裡我們按缺陷劃分,可將晶體分為不同種類;
(雲母)
晶體按缺陷劃分:
點缺陷:在二維尺寸小,在另一維尺寸大,可被電鏡觀察到;
面缺陷:在一維尺寸小,在另二維尺寸大,可被光學顯微鏡觀察到;
體缺陷:在三維尺寸較大,如鑲嵌塊,沉澱相,空洞,氣泡等;
按形成原因劃分:
1. 熱缺陷(晶格位置缺陷)
在晶體點陣的正常格點位出現空位,不該有質點的位置出現了質點(間隙質點);
2. 組成缺陷
外來質點(雜質)取代正常質點位置或進入正常結點的間隙位置;
3. 電荷缺陷
晶體中某些質點個別電子處於激髮狀態,有的離開原來質點,形成自由電子,在原來電子軌道上留下了電子空穴;
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